N34 光學(xué)計(jì)量?jī)x器 標(biāo)準(zhǔn)查詢(xún)與下載
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通用比色箱的結(jié)構(gòu)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于目視顏色評(píng)價(jià)時(shí)，所需標(biāo)準(zhǔn)視覺(jué)環(huán)境的設(shè)備。
Color assessment booth
- ICS
- 17.180.20
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2015-12-31
- 實(shí)施
- 2016-08-01
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)分度頭的術(shù)語(yǔ)和定義、等級(jí)及基本參數(shù)、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于角度測(cè)量的光學(xué)讀數(shù)和數(shù)字顯示的光學(xué)分度頭(以下簡(jiǎn)稱(chēng)分度頭)。
Optical dividing head
- ICS
- 37.020
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2013-12-17
- 實(shí)施
- 2014-07-15
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了焦度計(jì)的通用規(guī)范。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于連續(xù)顯示式和數(shù)字顯示式焦度計(jì)。
Optics and optical instruments--Focimeters
- ICS
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1998-05-05
- 實(shí)施
- 1998-12-01
Optics and optical instruments--Focimeters
- ICS
- 17.180.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1998-05-05
- 實(shí)施
- 1998-12-01 00:00:00.0
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)分度頭的產(chǎn)品分類(lèi)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸與貯存等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于角度測(cè)量的光學(xué)分度頭。
Optical dividing head
- ICS
- 17.180.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1995-01-04
- 實(shí)施
- 1995-12-01
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)計(jì)的型式與規(guī)格、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存. 本標(biāo)準(zhǔn)適用于用比較法進(jìn)行直線尺寸測(cè)量的光學(xué)計(jì).
Optimeter
- ICS
- 17.180.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1989-03-31
- 實(shí)施
- 1990-01-01
本標(biāo)準(zhǔn)是光學(xué)傳遞函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的第二部分. 本標(biāo)準(zhǔn)介紹了有關(guān)成像系統(tǒng)光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量裝置性能要求、組成、使用和環(huán)境控制的一般規(guī)則，并給出了可能影響OTF測(cè)量的各個(gè)重要因素、為保征精確測(cè)量所必須考慮的要點(diǎn)，以及測(cè)得數(shù)據(jù)的修正因子. 本標(biāo)準(zhǔn)所描述的光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量裝置，限制在分析被測(cè)光學(xué)成像系統(tǒng)的像平面的輻射分布.這些裝置不涉及以干涉儀為基礎(chǔ)的儀器.
Optical transfer function--Directives of measurement
- ICS
- 17.180.20
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1988-12-22
- 實(shí)施
- 1989-07-01
本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)讀數(shù)和數(shù)字顯示的萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀。
Universal horizontal metroscope
- ICS
- 17.180.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1988-01-13
- 實(shí)施
- 1989-01-01
本標(biāo)準(zhǔn)適用于單方向測(cè)量長(zhǎng)度的光學(xué)計(jì)量?jī)x器。
Optical length measuring instruments--Basic parameters
- ICS
- 17.180.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1988-01-13
- 實(shí)施
- 1989-01-01
本標(biāo)準(zhǔn)適用于分格值為0.001mm的測(cè)長(zhǎng)機(jī)。
Length measuring machine
- ICS
- 37.060.10
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 1983-05-28
- 實(shí)施
- 1984-04-01
General technical conditions for infrared gas analyzers used in coal mines
- ICS
- 17.180.99
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2019-06-04
- 實(shí)施
- 2019-10-01
本規(guī)范適用于便攜式拉曼光譜快速檢測(cè)儀的校準(zhǔn)。
Calibration Specification for Portable Raman spectrum fast detection instruments
- ICS
- 17.180
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2018-04-15
- 實(shí)施
- 2018-06-15
Colorimetry -- Part 6: CIEDE2000 Colour-difference formula
- ICS
- 17.180.20
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2017-03-21
- 實(shí)施
Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 1: Optical spectrum analyzers (IEC 62129-1:2016); German version EN 62129-1:2016
- ICS
- 17.180.30;33.180.99
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2016-12
- 實(shí)施
This part of IEC 62129 specifies procedures for calibrating an optical spectrum analyzer that is developed for use in fibre-optic communications and designed to measure the power distribution of an optical spectrum. It does not apply to an optical wavelength meter that measures only centre wavelengths, a Fabry-Perot interferometer or a monochromator that has no display unit.
Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 1: Optical spectrum analyzers
- ICS
- 17.180.30;33.140;33.180.01;33.180.99
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2016-01
- 實(shí)施
- 2016-01-15
State system for ensuring the uniformity of measurements. Instruments of measurement of characteristic of artificial and natural radiation for safeting of museum exhibits. Verification procedure
- ICS
- 17.020;17.240
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2016
- 實(shí)施
- 2017-01-01
Geometrical product specifications (GPS) -- Coordinate measuring machines (CMM) : Technique for determining the uncertainty of measurement -- Part 3: Use of calibrated workpieces or measurement standards
- ICS
- 17.040.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2015-10-20
- 實(shí)施
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) -- Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems
- ICS
- 17.040.30
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2015-10-20
- 實(shí)施
本規(guī)范用于反射式光密度計(jì)視覺(jué)反射密度和彩色反射密度的校準(zhǔn)。
Calibration Specification for Reflection Densitometers
- ICS
- CCS
- N34
- 發(fā)布
- 2014-11-17
- 實(shí)施
- 2015-02-17
